紫外可見分光光度計(jì)的基線平直度的影響因素：
(1)灰塵
濾光片或光學(xué)元件上的灰塵會(huì)產(chǎn)生散射，從而引起基線平直度變壞。
(2)濾光片未安裝好
因?yàn)椴煌ǘ我捎貌煌臑V光片，所以濾光片切換時(shí)會(huì)產(chǎn)生噪聲，使基線平直度變壞。
(3)光源（氘燈、鎢燈）切換
光源（氘燈、鎢燈）切換時(shí)產(chǎn)生的噪聲，一般在340～360nm左右出現(xiàn)，從而使基線平直度變壞。
(4)測試時(shí)掃描速度太快
基線平直度測試時(shí)掃描速度太快，也會(huì)使基線平直度變壞。上約定，在測試
紫外可見分光光度計(jì)的基線平直度時(shí)，掃描速度都用慢速。
(5)電子學(xué)方面的噪聲過大
電子學(xué)方面的噪聲過大，也會(huì)直接影響基線平直度，特別是放大器和光電轉(zhuǎn)換元件的噪聲，對基線平直度的影響更大。
(6)光學(xué)部分未調(diào)整好
光學(xué)部分未調(diào)整好，特別是單色器的光路未調(diào)整好，會(huì)使信號(hào)減小，信噪比變小，使基線平直度變壞。
(7)環(huán)境因素
如果周圍環(huán)境有振動(dòng)、電場干擾、磁場干擾、電壓不穩(wěn)等，都會(huì)使基線平直度變壞。
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